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头影测量（Cephalometry）是一种通过X射线影像来评估颅面骨骼结构的方法，常用于正畸和颌面外科领域。它通过识别并测量一系列特定的解剖学标志点，来分析头部骨骼的形态和位置关系。
头影测量图上通常包括以下一些关键标志点：
Nasion (N) - 鼻根点，位于鼻骨与额骨的交界处。
Sella (S) - 垂体窝的中心点。
Orbitale (Or) - 眶下缘最低点。
Pogonion (Pog) - 下颌前突点，即下颌骨最前端的点。
Gnathion (Gn) - 下颌角顶点，位于下颌角的最高点。
Menton (Me) - 颏点，下颌骨尖端的最下点。
Arasion (Ara) - 枕骨大孔后缘的最高点。
Porion (Po) - 外耳道上缘的最高点，常用于确定水平基准线。
Oporion (Op) - 对侧外耳道上缘的最高点。
Articulare (Ar) - 颞下颌关节的最下点。
这些点可以用来定义不同的角度和距离，例如：
ANB角：评估上下颌骨的相对位置。
SNB角：评估下颌骨相对于颅底的位置。
SNA角：评估上颌骨相对于颅底的位置。
Y轴角：评估面部的垂直向发育。
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